基于单片机的多功能静电衰减测试仪

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２００７在　第　１１期　仪　表　技　术　与　传　感　器　Ｉｎｓｍｍａｅｎｔ　Ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ　ａｎｄ　Ｓｅｎｓｏｒ　２０【Ｊ７　Ｎｏ．１１　基于单片机的多功能静电衰减测试仪　黎晖　，魏光辉　，刘　掬　（１．军械工程学院静电与电磁防护研究所　，河北石家庄　０５０００３；　２．北京军事代表局驻石家庄地区军代室，河北石家庄　０５０００３）　摘要：静电衰减时间常数是定量描述材料静电性能的重要物理量，可以通过测量静电电荷衰减时间达到测量静电的　目的。在对现有静电测试方法以及各类静电衰减测试仪研究的基础上，基于单片机原理设计出多功能电荷　衰减测试仪，　它集充电法、电晕喷电法、摩擦法测试功能为一体，弥补了现有静电衰减测试仪功能单一的不足，利用单片机本身的定时　计数功能得到精确的静电电荷衰减时间。　关键词：单片机；衰减时间；计时；测试方式；仪　器　中图分类号：ＴＰ３６８．１；ＴＰ２１６　文献标识码：Ａ　文章编号：１００２—１８４１（２００７）１１—００１１～０２　Ｍｕｌｔｉ－ｆｕｎｃｔｉｏｎ　Ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ　Ｃｈａｒｇｅ　Ｄｅｃａｙ　Ｔｅｓｔ　Ａｐｐａｒａｔｕｓ　Ｂａｓｅｄ　ｏｎ　Ｓｉｎｇｌｅ　Ｃｈｉｐ　Ｃｏｍｐｕｔｅｒ　ＬＩ　Ｈｕｉ　，ＷＥＩ　Ｇｕａｎｇ－ｈｕｉ　，ＩＩＵ　ｊｕ２　（１．Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ　ｏｆＥｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ　ａｎｄ　Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ　Ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ，Ｏｒｄｎａｎｃｅ　Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ　Ｃｏｌｌｅｇｅ，ＳｈＵｉａｚｈｕａｎｇ　０５０００３，Ｃｈｉｎａ；　２．Ｓｈｉｊｉａｚｈｕａｎｇ　Ｍｉｌｉｔａｒｙ　Ｒｅｐｒｅｓｅｎｔａｔｉｖｅ　Ｉｎｓｔｉｔｕｔｉｏｎ，Ｂｅｉｊｉｎｇ　Ｍｉｌｉｔａｒｙ　Ｒｅｐｒｅｓｅｎｔａｔｉｖｅ　Ｏｆｉｃｅ，Ｓｈｉｊｉａｚｈｕａｎｇ　０５０００３，Ｃｈｉｎａ）　Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｔｈｅ　ｃｏｎｓｔａｎｔ　ｏｆ　ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ　ｃｈａｒｇｅ　ｄｅｃａｙ　ｔｉｍｅ　ｉｓ　ａ　ｉｍｐｏｒｔａｎｔ　ｐｈｙｓｉｃａｌ　ｑｕａｎｔｉｔｙ　ｔｈａｔ　ｃａｌｌ　ｄｅｓｃｒｉｂｅ　ｔｈｅ　ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃｓ　ｐｒｏｐｅｒｔｙ　ｏｆ　ｍａｔｅｒｉａｌｓ．Ｗｉｔｈ　ａｎａｌｙｓｉｓ　ｏｆ　ｐｒｅｓｅｎｔ　ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ　ｔｅｓｔ　ｍｅｔｈｏｄｓ　ａｎｄ　ｄｉｆｅｒｅｎｔ　ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ　ｃｈａｒｇｅ　ｄｅｃａｙ　ｔｅｓｔ　ｄｅｖｉｃｅｓ，ｄｅｓｉｇｎｉｎｇ　ａ　ｍｕｌｔｉ—　

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